Materials Reliability Issues in Microelectronics(MRS Proceedings)

材料表面与界面

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作      者
出  版 社
出版时间
1991年10月01日
装      帧
精装
ISBN
9781558991194
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开      本
228×152mm
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英文
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图书简介
With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put ’reliabilty physics’ on a firm scientific foundation. Topics include electromigration, stress and packaging, metallization and corrosion.
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