INFRARED CHARACTERIZATION FOR MICROELECTRONICS

材料科学基础学科

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作      者
出  版 社
出版时间
1999年10月04日
装      帧
精装
ISBN
9789810223526
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页      码
172
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图书简介
The focus of this text is on practical applications of infrared characterization useful to the production line and to the research and development of microelectronics. The background knowledge and significance of doing a particular type of infrared measurement is discussed in detail.
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