Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

器件与电路的偏压温度不稳定性

光电子学与激光技术

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作      者
出  版 社
出版时间
2013年12月15日
装      帧
精装
ISBN
9781461479086
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页      码
810
语      种
英语
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图书简介
This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
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